· 標(biāo)配密封陶瓷X射線光管,功率大,亮度高,可持續(xù)工作,長(zhǎng)期可靠性好
· 高運(yùn)動(dòng)精度測(cè)角儀,配合高精密光學(xué)元件,可提供高準(zhǔn)直、高單色的X射線光束
· 二維光子計(jì)數(shù)探測(cè)器,具有很高的空間分辨率,可以大幅度提高測(cè)試效率
· 具有良好的兼容性和擴(kuò)展性,支持模組快捷切換,以滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求
· 智能光路系統(tǒng):光路自動(dòng)切換、模組自動(dòng)識(shí)別
測(cè)試數(shù)據(jù)


SXRD-HR100測(cè)試數(shù)據(jù):半高寬(FWHM)

測(cè)試條件
· B/B幾何光路
· 光管功率:40KV,40mA
· 索拉狹縫:3°
· 入射狹縫:0.6°
· 步進(jìn)模式:step=0.003°(單晶硅)
· 連續(xù)模式:step=0.02°(多晶硅)
高精度X射線衍射儀SXRD-HR100技術(shù)特點(diǎn)
大功率光管(兩種靶材可選)
Cu靶:標(biāo)配光源,波長(zhǎng)=1.54Å,適用于絕大部分X射線衍射實(shí)驗(yàn)和應(yīng)用場(chǎng)景
Mo靶:波長(zhǎng)=0.71Å,主要針對(duì)輕元素(如 Li、B)材料和超高分辨(如半導(dǎo)體應(yīng)變層)的衍射實(shí)驗(yàn)
模塊化與自動(dòng)化設(shè)計(jì)
· 系統(tǒng)具有模組自動(dòng)識(shí)別功能,可隨時(shí)了解系統(tǒng)配置狀態(tài)
· 光路自動(dòng)調(diào)整,可有效降低實(shí)驗(yàn)難度,提高實(shí)驗(yàn)效率
· 不同光路之間可自動(dòng)切換,大大提高實(shí)驗(yàn)的自動(dòng)化程度
超高分辨率
· 高精度測(cè)角儀,配合光學(xué)編碼器的全閉環(huán)控制,可實(shí)現(xiàn)的定位精度為 ±0.0001°
· X射線多層膜反射鏡(Goebel鏡),用于X射線光束修飾,可將光束準(zhǔn)直性提高到0.03°以內(nèi),并有效去除特征光譜中的Kβ部分
· Ge220雙晶單色器,用于X射線光束修飾,可進(jìn)一步提高光束單色性,是超高分辨率衍射的必備光學(xué)元件
· 可選配二維單光子計(jì)數(shù)探測(cè)器,具有大面積(有效面積 77.1x 38.4毫米)、高空間分辨率(最小像素75x75 微米)和高計(jì)數(shù)率
客戶價(jià)值
提升科研效率 (自動(dòng)化 + 高通量,縮短研發(fā)周期)
自動(dòng)化操作:自動(dòng)校準(zhǔn)功能、模塊識(shí)別功能、一鍵式流程,可以有效降低實(shí)驗(yàn)難度,提高實(shí)驗(yàn)效率,非常適合需要快速迭代的研發(fā)場(chǎng)景
大面積光子計(jì)數(shù)探測(cè)器:可同時(shí)采集多角度數(shù)據(jù),結(jié)合 AI 輔助分析,快速完成物相識(shí)別或應(yīng)力分布計(jì)算,加速實(shí)驗(yàn)-反饋循環(huán)
節(jié)約運(yùn)行成本(低維護(hù)設(shè)計(jì) + 模塊化擴(kuò)展 + 自動(dòng)化設(shè)計(jì),降低全生命周期成本)
低維護(hù)與高壽命:標(biāo)配的陶瓷密封X射線管,使用壽命長(zhǎng),日常無需維護(hù)成本
模塊化設(shè)計(jì)與擴(kuò)展性:用戶無需為不同需求購(gòu)置多臺(tái)設(shè)備,通過升級(jí)附件,即可擴(kuò)展新的功能,降低初期投資和后續(xù)升級(jí)成本
節(jié)約人力成本:自動(dòng)化操作減少對(duì)專業(yè)操作員的依賴,新手經(jīng)過短期培訓(xùn)即可獨(dú)立完成復(fù)雜測(cè)試,有效降低人力資源投入
提升數(shù)據(jù)的質(zhì)量與可靠性(高靈敏度 + 穩(wěn)定性,確保數(shù)據(jù)可靠性,支持高精度工藝控制)
高精度與低噪聲:高精密光學(xué)元件,對(duì)X射線光束進(jìn)行準(zhǔn)直和單色,配合多能量閾值可選的光子計(jì)數(shù)探測(cè)器,可以有效降低噪聲信號(hào),提高實(shí)驗(yàn)的分辨率,確保弱信號(hào)樣品的精準(zhǔn)檢測(cè),提高實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性
穩(wěn)定性與重復(fù)性:高精度機(jī)械加工,配合光學(xué)編碼器形成的全閉環(huán)控制,保證了測(cè)角儀的運(yùn)動(dòng)精度、穩(wěn)定性、長(zhǎng)期可靠性,可以滿足工業(yè)質(zhì)量控制(如半導(dǎo)體晶圓檢測(cè))對(duì)可重復(fù)性的嚴(yán)苛要求
靈活性(模塊化設(shè)計(jì),兼容性強(qiáng),擴(kuò)展性強(qiáng),滿足跨領(lǐng)域需求,適應(yīng)技術(shù)趨勢(shì)迭代)
易用性(智能化操作降低技術(shù)門檻,遠(yuǎn)程協(xié)作提升資源利用率)
應(yīng)用領(lǐng)域

技術(shù)規(guī)格
| 項(xiàng)目 |
規(guī)格參數(shù) |
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外觀尺寸
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1300(寬)×1880(高)×1300(深)mm
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X射線光管
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最大輸出功率3kw,電壓 10 - 60kv,電流 0 - 50mA
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靶材 Cu,陽(yáng)極接地,鈹窗 300μm,起飛角 6°
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電子束焦斑:0.4×1.2mm
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水冷:最小流速 3.5l/min,最大水壓 490KPa,壓降 98KPa
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高壓電源
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輸入:電壓 230Vac - 10%, one phase,電流 33A
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輸出:電壓 0 - 60kv,電流 0 - 80mA
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穩(wěn)定性:預(yù)熱 1 小時(shí)后,8 小時(shí)內(nèi)電壓和電流變化 < 0.01%
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紋波:在 1KHz 以下,0.03% rms;在 1KHz 以上,0.75% rms
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測(cè)角儀
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類型:垂直放置測(cè)角儀
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角度范圍:-110° ~ +168°
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角度定位:步進(jìn)電機(jī) + 光學(xué)編碼器
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最小步長(zhǎng) 0.0001°,運(yùn)動(dòng)精度≤±0.0001°
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| 項(xiàng)目 |
規(guī)格參數(shù) |
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探測(cè)器
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類型:光子計(jì)數(shù)型混合像素半導(dǎo)體探測(cè)器
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有效面積:77.1×38.4 = 2961mm²
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像素大?。?5×75μm
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尺寸:100 x 140 x 93 mm
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樣品臺(tái)
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標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):Rx, RY, Z, phi
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XYZ 運(yùn)動(dòng)平臺(tái) (可選): X, Y, Z
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毛細(xì)管樣品臺(tái) (可選):X, Y, phi
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五軸樣品臺(tái) (可選): X, Y, Z, phi, Chi
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Non - ambient 樣品臺(tái) (可選)
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光學(xué)元件
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可變狹縫:0.05 - 10mm
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soller 狹縫:0.5°丶0.2°丶0.1°丶0.05°丶0.02°
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Goebel 鏡:發(fā)散度≤0.03°, f1 = 100mm,單色性 Kα
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雙晶單色器:Ge220×2
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