1. 與光學(xué)系統(tǒng)聯(lián)用開展納米尺度的光譜測量與分析,研究光電信息材料與器件;
2. 無光環(huán)境下的納米尺度光電特性研究,包括:光電/發(fā)光/半導(dǎo)體材料及器件;
3. 納米及原子尺度物性研究,包括:力梯度-距離曲線、納米力學(xué)、針尖增強(qiáng)拉曼;
4. 可實(shí)現(xiàn)高空間分辨率的測量分析與成像,包括導(dǎo)電原子力顯微鏡、靜電力顯微鏡、開爾文探針力
顯微鏡、磁力顯微鏡及用戶定制功能;
5. 可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于10納米超分辨的光譜測試,滿足新型納米光子器件和先進(jìn)光電材料的研究需要,可為
探索范德華強(qiáng)關(guān)聯(lián)材料、鈣鈦礦材料等新材料、新器件的光電性質(zhì)及人工微結(jié)構(gòu)光子器件提供有
力的研究工具。
尺寸圖